ACOMPANHAMENTO DO ENVELHECIMENTO DE SEMICONDUTORES POR MEIO DE ELETROMAGNETISMO

  • José Artur Bezerra Leal Centro Universitário Braz Cubas
  • Bruno Thomas Dias Marçal Centro Universitário Braz Cubas
  • Felipe Mendes Pedroso Centro Universitário Braz Cubas
  • Antonio Carlos da Cunha Migliano
  • Mayara dos Santos Amarante Centro Universitário Braz Cubas
Palavras-chave: Engenharia elétrica. Semicondutor. Impedância.

Resumo

Com o passar do tempo, a busca por eficiência em aparelhos eletrônicos está sendo cada vez mais explorada. Levantamento de pesquisas sobre matéria prima e estudos sobre durabilidade e envelhecimento de semicondutores tem sido um grande desafio para os cientistas e de grande interesse para o mercado financeiro. Na prática, o campo eletrônico em geral está vendo reduções nas dimensões dos dispositivos e aumentos no número de componentes integrados em um único sistema. Logo, analisando estes fatos e estudos realizados, pode-se dizer que uma das formas de observar o envelhecimento de um semicondutor é por meio de emissões de valores de impedância gerado por um microcontrolador, no qual o componente será acelerado utilizando técnicas de envelhecimento por meio da estufa e submetido a 140°C no período de uma semana, ocorrendo aferições de impedância com medições entre os ciclos de forma precisa com auxílio do Analisador de Impedância a uma faixa de 40 Hz a 110 MHz de acordo com cada ciclo de envelhecimento. A proposta do projeto é entender o processo de desgaste dos semicondutores, mesmo considerando ser um resultado já esperado e antecipado do uso de qualquer dispositivo eletrônico, o que é compreensível presumir que após um período de uso, um equipamento não funcione tão bem quanto na fabricação, assim como outros muitos mecanismos associados ao envelhecimento se tornem degradados caso o equipamento for mais estressado por meios elétricos e térmicos. Então, após a coleta de dados e gráficos, é possível concluir que por meio de análises de emissão da Impedância observa-se o envelhecimento de semicondutores, pois houve grandes oscilações entre as medições.

Publicado
2023-04-11
Como Citar
Leal, J. A. B., Marçal, B. T. D., Pedroso, F. M., Migliano, A. C. da C., & Amarante, M. dos S. (2023). ACOMPANHAMENTO DO ENVELHECIMENTO DE SEMICONDUTORES POR MEIO DE ELETROMAGNETISMO. Diálogos Interdisciplinares, 12(1), 209-229. Recuperado de https://revistas.brazcubas.br/index.php/dialogos/article/view/1242

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